Árajánlatok kérése
A vállalatom listázása
  1. europages kezdőlap
  2. FEINMETALL GMBH
  3. Magas Áramú Kapcsoló Probek - akkumulátor teszteléshez és más magas áramú tesztalkalmazásokhoz
Magas Áramú Kapcsoló Probek - akkumulátor teszteléshez és más magas áramú tesztalkalmazásokhoz
Magas Áramú Kapcsoló Probek - akkumulátor teszteléshez és más magas áramú tesztalkalmazásokhozMagas Áramú Kapcsoló Probek - akkumulátor teszteléshez és más magas áramú tesztalkalmazásokhoz

Magas Áramú Kapcsoló Probek - akkumulátor teszteléshez és más magas áramú tesztalkalmazásokhoz

Connectors

A termék bemutatása

WebsiteEllátó termékoldalának látogatása
Egy speciális szonda kialakítás lehetővé teszi a nagyon magas áramokkal és nagyon alacsony érintkezési ellenállásokkal való érintkezést. További funkciók, mint például hőmérséklet-érzékelők vagy érzékelő tüskék integrálhatók, még korlátozott térben is.

Kulcsszavak

Elektronikus csatlakozók
Logo
Ellenőrzött

FEINMETALL GMBH

Zeppelinstrasse 8, Herrenberg 71083
Németország
WebsiteA weboldal felkeresése
Szállítás
Szállítás: Világszerte
Alapítva
Alapítva: 1964
Alkalmazottak
Alkalmazottak: 1000+
Beszállítótípus
Info
Gyártás
Hasonló termékek
1/12
LiProbe Próbakártyák - RF alkalmazásokhoz, nagy tervezési változatossággal
LiProbe Próbakártyák - RF alkalmazásokhoz, nagy tervezési változatossággal
Próbakártya lamellás érintkezőelemekkel, különösen alkalmas RF alkalmazásokhoz, nagy tervezési változatossággal.
DE-71083 Herrenberg
Kapcsolópróbák - jelenlét és pozíció tesztelésére
Kapcsolópróbák - jelenlét és pozíció tesztelésére
A kapcsolóprobek érintkezőprobek, amelyek integrált kapcsolófunkcióval rendelkeznek, és amelyek egy bizonyos mozgás után nyílnak vagy záródnak. Ez nag...
DE-71083 Herrenberg
Kapcsolati szondák autóipari alkalmazásokhoz - vezeték- és csatlakozóteszthez
Kapcsolati szondák autóipari alkalmazásokhoz - vezeték- és csatlakozóteszthez
Okosan tervezett érintkező szondák, menetes szondák, kapcsolószondák, lépcsős szondák, visszatoló szondák - a tökéletes érintkezési megoldás minden al...
DE-71083 Herrenberg
Finom léptékű szondák - a megfelelő tesztaljzatokhoz, amelyek lehetővé teszik a tesztpontok pontos érintkezését
Finom léptékű szondák - a megfelelő tesztaljzatokhoz, amelyek lehetővé teszik a tesztpontok pontos érintkezését
A lehetőségek határán: Megbízható érintkezőszondák a legfinomabb struktúrákhoz és félvezető érintkezésekhez akár 40μm távolságig.
DE-71083 Herrenberg
Pogo csatlakozók - gyorsan leválasztható elektromos kapcsolatokhoz
Pogo csatlakozók - gyorsan leválasztható elektromos kapcsolatokhoz
A Pogo csatlakozók töltési célokra vagy jelátvitelre használhatók eltávolítható eszközök között vagy termékeken belül.
DE-71083 Herrenberg
ViProbe II Próbakártyák - jelentősen megnövelt termékélettartamot és további biztonsági funkciókat kínálnak
ViProbe II Próbakártyák - jelentősen megnövelt termékélettartamot és további biztonsági funkciókat kínálnak
Új verzió a függőleges érintkezési technológiából, amely a megnövelt élettartamra és más előnyökre összpontosít.
DE-71083 Herrenberg
Tesztcsatlakozók - elérhetők sok interfészhez, például RJ, USB, HDMI és mások
Tesztcsatlakozók - elérhetők sok interfészhez, például RJ, USB, HDMI és mások
A Feinmetall tesztcsatlakozók számos interfészhez, például RJ, USB, HDMI és másokhoz elérhetők. Nagyon könnyen és hatékonyan telepíthetők tesztberende...
DE-71083 Herrenberg
Kelvin-probák - alacsony impedanciájú ellenállások mérésére, különösen szűk helyeken
Kelvin-probák - alacsony impedanciájú ellenállások mérésére, különösen szűk helyeken
Négypólú mérés minimális térben: koaxiális érintkezőszondák belső vezetővel érzékelőként, a legkisebb távolságoktól a legmagasabb áramokig.
DE-71083 Herrenberg
MµProbe Próbakártyák - MEMS érintkezőelemekhez és finom léptékű teljes tömb alkalmazások wafer teszteléséhez
MµProbe Próbakártyák - MEMS érintkezőelemekhez és finom léptékű teljes tömb alkalmazások wafer teszteléséhez
Az MµProbe® próbakártyák MEMS érintkezőelemekkel rendelkeznek, és különösen alkalmasak finom léptékű teljes tömb alkalmazásokhoz a wafer tesztelésében...
DE-71083 Herrenberg
Kapcsolódó szondák PCB teszteléshez - in-circuit és funkcionális tesztekhez
Kapcsolódó szondák PCB teszteléshez - in-circuit és funkcionális tesztekhez
Nagy választék érintkező szondákból (pogo pins) PCB-k érintkezésére még nehéz érintkezési körülmények között is, különböző méretek, hegyformák és rugó...
DE-71083 Herrenberg
Rádiófrekvenciás szondák - sok szabványos RF csatlakozó és RF aljzat érintkezésére használják
Rádiófrekvenciás szondák - sok szabványos RF csatlakozó és RF aljzat érintkezésére használják
Minden általános RF csatlakozó érintkezése: 20 GHz-ig terjedő frekvenciákhoz, intelligens tervezéssel a legmagasabb megbízhatóság és a könnyű telepíté...
DE-71083 Herrenberg
ViProbe Próbakártyák - bevált hajlított gerenda technológia, kiváló érintkezési minőséggel
ViProbe Próbakártyák - bevált hajlított gerenda technológia, kiváló érintkezési minőséggel
Óriási alkalmazási területekhez alkalmazkodó, a ViProbe® több mint 25 éve bizonyított hajlítógerenda-technológia, amelyet elsősorban egyedülállóan kön...
DE-71083 Herrenberg
Hasonló termékek
1/12
LiProbe Próbakártyák - RF alkalmazásokhoz, nagy tervezési változatossággal
LiProbe Próbakártyák - RF alkalmazásokhoz, nagy tervezési változatossággal
Próbakártya lamellás érintkezőelemekkel, különösen alkalmas RF alkalmazásokhoz, nagy tervezési változatossággal.
DE-71083 Herrenberg
Kapcsolópróbák - jelenlét és pozíció tesztelésére
Kapcsolópróbák - jelenlét és pozíció tesztelésére
A kapcsolóprobek érintkezőprobek, amelyek integrált kapcsolófunkcióval rendelkeznek, és amelyek egy bizonyos mozgás után nyílnak vagy záródnak. Ez nag...
DE-71083 Herrenberg
Kapcsolati szondák autóipari alkalmazásokhoz - vezeték- és csatlakozóteszthez
Kapcsolati szondák autóipari alkalmazásokhoz - vezeték- és csatlakozóteszthez
Okosan tervezett érintkező szondák, menetes szondák, kapcsolószondák, lépcsős szondák, visszatoló szondák - a tökéletes érintkezési megoldás minden al...
DE-71083 Herrenberg
Finom léptékű szondák - a megfelelő tesztaljzatokhoz, amelyek lehetővé teszik a tesztpontok pontos érintkezését
Finom léptékű szondák - a megfelelő tesztaljzatokhoz, amelyek lehetővé teszik a tesztpontok pontos érintkezését
A lehetőségek határán: Megbízható érintkezőszondák a legfinomabb struktúrákhoz és félvezető érintkezésekhez akár 40μm távolságig.
DE-71083 Herrenberg
Pogo csatlakozók - gyorsan leválasztható elektromos kapcsolatokhoz
Pogo csatlakozók - gyorsan leválasztható elektromos kapcsolatokhoz
A Pogo csatlakozók töltési célokra vagy jelátvitelre használhatók eltávolítható eszközök között vagy termékeken belül.
DE-71083 Herrenberg
ViProbe II Próbakártyák - jelentősen megnövelt termékélettartamot és további biztonsági funkciókat kínálnak
ViProbe II Próbakártyák - jelentősen megnövelt termékélettartamot és további biztonsági funkciókat kínálnak
Új verzió a függőleges érintkezési technológiából, amely a megnövelt élettartamra és más előnyökre összpontosít.
DE-71083 Herrenberg
Tesztcsatlakozók - elérhetők sok interfészhez, például RJ, USB, HDMI és mások
Tesztcsatlakozók - elérhetők sok interfészhez, például RJ, USB, HDMI és mások
A Feinmetall tesztcsatlakozók számos interfészhez, például RJ, USB, HDMI és másokhoz elérhetők. Nagyon könnyen és hatékonyan telepíthetők tesztberende...
DE-71083 Herrenberg
Kelvin-probák - alacsony impedanciájú ellenállások mérésére, különösen szűk helyeken
Kelvin-probák - alacsony impedanciájú ellenállások mérésére, különösen szűk helyeken
Négypólú mérés minimális térben: koaxiális érintkezőszondák belső vezetővel érzékelőként, a legkisebb távolságoktól a legmagasabb áramokig.
DE-71083 Herrenberg
MµProbe Próbakártyák - MEMS érintkezőelemekhez és finom léptékű teljes tömb alkalmazások wafer teszteléséhez
MµProbe Próbakártyák - MEMS érintkezőelemekhez és finom léptékű teljes tömb alkalmazások wafer teszteléséhez
Az MµProbe® próbakártyák MEMS érintkezőelemekkel rendelkeznek, és különösen alkalmasak finom léptékű teljes tömb alkalmazásokhoz a wafer tesztelésében...
DE-71083 Herrenberg
Kapcsolódó szondák PCB teszteléshez - in-circuit és funkcionális tesztekhez
Kapcsolódó szondák PCB teszteléshez - in-circuit és funkcionális tesztekhez
Nagy választék érintkező szondákból (pogo pins) PCB-k érintkezésére még nehéz érintkezési körülmények között is, különböző méretek, hegyformák és rugó...
DE-71083 Herrenberg
Rádiófrekvenciás szondák - sok szabványos RF csatlakozó és RF aljzat érintkezésére használják
Rádiófrekvenciás szondák - sok szabványos RF csatlakozó és RF aljzat érintkezésére használják
Minden általános RF csatlakozó érintkezése: 20 GHz-ig terjedő frekvenciákhoz, intelligens tervezéssel a legmagasabb megbízhatóság és a könnyű telepíté...
DE-71083 Herrenberg
ViProbe Próbakártyák - bevált hajlított gerenda technológia, kiváló érintkezési minőséggel
ViProbe Próbakártyák - bevált hajlított gerenda technológia, kiváló érintkezési minőséggel
Óriási alkalmazási területekhez alkalmazkodó, a ViProbe® több mint 25 éve bizonyított hajlítógerenda-technológia, amelyet elsősorban egyedülállóan kön...
DE-71083 Herrenberg