Leica EM TXP

Leica EM TXP

A Leica EM TXP egyedülálló eszköz a minták előkészítésére, amelyet kifejezetten a minták marására, vágására, csiszolására és polírozására fejlesztettek ki, mielőtt azokat REM (Rasterelektronmikroszkóp), TEM (Transzmissziós elektronmikroszkóp) vagy LM (Fénymikroszkóp) vizsgálatnak vetnék alá. Az integrált sztereomikroszkóp segítségével még a nehezen észlelhető célok is pontosan lokalizálhatók és problémamentesen előkészíthetők. A mintaszögelő kar lehetővé teszi, hogy a minta közvetlenül 0° és 60° vagy 90° -os szögben, a frontoldalhoz viszonyítva, megtekinthető legyen, és a távolság az okulár rácslemez segítségével meghatározható.

Megérkezett az europages alkalmazás!

Használja az új és fejlesztett szolgáltatókeresőnket, vagy hozzon létre érdeklődéseket a vásárlók számára készült új europages alkalmazás segítségével.

Letöltés az App Store-ban

App StoreGoogle Play