Ntegra Nano Ir - AFM-Raman-Nano-IR Rendszerek

IR s‑SNOM mikroszkópia és spektroszkópia 10 nm térbeli felbontással Széles spektrális működési tartomány 312 μm Hihetetlenül alacsony hőelmozdulás és magas jelstabilitás Sokoldalú AFM fejlett módokkal: SRI (vezetőképesség), KPFM (felületi potenciál), SCM (kapacitás), MFM (mágneses tulajdonságok), PFM (piezoelektromos erők) HybriD Mode™ kvantitatív nanomechanikai térképezés Integráció mikroRaman-nal (opcionális) Az s‑SNOM mérések képessége a látható spektrális tartományban (opcionális) Az NTMDT Spectrum Instruments bemutatja az NTEGRA Nano IR szórásos szkennelő közeli mező optikai mikroszkópot (s‑SNOM), amelyet az infravörös (IR) spektrális tartományhoz terveztek. Az AFM szonda az optikai rendszer fókuszában helyezkedik el, amely IR lézerrel izgatja a minta struktúráját, és gyűjti az optikai választ. A begyűjtött fény a Michelson interferométerhez irányul optikai elemzés céljából. Széles spektrális működési tartomány: 3-12 μm Alacsony zajú LN2 hűtésű MCT detektor: <30 nV/√Hz tapintási frekvencia harmonikusoknál (100 kHz – 1 MHz) Magas teljesítményű alacsony zajú AFM: Z-zaj <0.05 nm (RMS 10-1000 Hz sávszélességen) Stabil AFM teljesítmény magas hőmérsékleten: akár 150 °C standard fűtőszínpad mellett Fókusz követési funkció: a minta mindig fókuszban marad a minta Z-visszajelzésének köszönhetően