RAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldások
RAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldásokRAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldásokRAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldásokRAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldásokRAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldások

RAMOS E/M sorozat Raman spektrométerek - Konfokális Raman megoldások

A RAMOS E/M sorozatú Raman spektrométerek kutatási szintű optikai mikroszkópok alapjain lettek tervezve, lehetővé téve a következő fénymikroszkópos módszerek megvalósítását: - Raman mérések - Átengedett fény - Visszavert fény (világos mező és sötét mező világítás) - Konfokális mikroszkópia - Fluoreszcencia mérések - Polarizációs kontraszt és fáziskontraszt képalkotás - Diferenciális interferencia kontraszt A 3D-s lézeres Raman mikroszkópok gyors, nagy érzékenységű elemzést biztosítanak. A Raman spektrométerek innovatív rendszertervezési megközelítése rendkívül magas hőmérsékleti és időbeli stabilitást garantál a spektrális mérések során. A RAMOS E200 rendszer összes komponense teljesen integrált egy optikai mikroszkópba, biztosítva a rendszer kompakt és mobil kialakítását. A RAMOS M350, M520, M750 rendszerek külső képalkotó spektográfokkal kapcsolódnak optikai szálakon keresztül. A Raman mérések a RAMOS E/M sorozatú rendszerekkel néhány percen belül elindíthatók a rendszer kulcsának elfordításával. Képalkotási mód::3D (XYZ) konfokális lézer- és Raman képek Szkennelési típus::XY galvano-tükör szkennelők, XY motoros asztal (opció), Z piezo szkenner Szkennelési sebesség::1000 x 1000 pixel 3 másodperc alatt (3 μs/pixel) Térbeli felbontás::XY: 440 nm, Z: 620 nm (532 nm lézer, 100 x, NA = 0.95) Spektrális tartomány::50 – 8500 cm-1 (532 nm lézer); 50 – 9700 cm-1 (532 nm lézer) Gerjesztési forrás::Beépített 473 nm vagy 532 nm, további külső lézerek 455 nm, 633 nm, 785 nm csatlakoztatása lehetséges Lézerfény attenuátor::Automatizált egység VND szűrővel, folyamatosan változtatható 0.1% és 100% között Rayleigh elutasító szűrők::Egy pár él szűrő, amelynek vágási határa 50 cm-1-től kezdődik (532 nm lézerhez) Spektrométer konfiguráció::2-csatornás képalkotó spektrométer közvetlenül csatlakoztatva egy mikroszkóphoz vagy külső képalkotó spektográfhoz Fókusztávolság::200 mm, 350 mm, 520 mm vagy 750 mm Rácsok száma::2 rács, 4 opcionálisan vagy 4 motoros toronyra szerelve, további rácsok manuális cserével Érzékelő rendszer::CCD érzékelő 2048x122 pixel, Peltier hűtéssel vagy CCD érzékelő 2048x122 kétfokozatú hűtéssel Opciók::Fűtő- és hűtőstádiumok, optikai szálas szonda, EM-CCD érzékelő a végső Raman térképezési sebességhez Kiterjesztések::FLIM opció elérhető. AFM-mel való kombináció lehetséges
Hasonló termékek
1/15
Leica DM2700 M - Anyagokhoz készült álló mikroszkóp univerzális LED világítással
Leica DM2700 M - Anyagokhoz készült álló mikroszkóp univerzális LED világítással
Megbízható és könnyen kezelhető ellenőrző mikroszkóp a fémográfia, a földtudományok, a kriminalisztikai vizsgálatok, az anyagok minőségellenőrzése és ...
DE-35578 Wetzlar
XploRa Raman Mikroszkóp
XploRa Raman Mikroszkóp
Az XploRa sorozat, kompakt és robusztus konfokális Raman mikroszkóp gyógyszeripari, igazságügyi, biológiai, geológiai, anyagvizsgálati vagy művészeti ...
DE-64625 Bensheim
Zeiss Mikroszkópok - LMT201
Zeiss Mikroszkópok - LMT201
Lényeges jellemzők - Közvetlen pozicionálás két tengelyen lineáris motorok segítségével - A pozíció abszolút mérése, így elmarad a referenciapont beál...
DE-35633 Lahnau
Szénfekete diszperziós elemző - Szénfekete diszperziós elemző poliolefineknél
Szénfekete diszperziós elemző - Szénfekete diszperziós elemző poliolefineknél
Mikroszkóp szükséges a poliolefineken található agglomerátumok vizsgálatához a diszperzió mértékének meghatározásához. A digitális fényképezőgép a kép...
TR-34528 Istanbul
WM2
WM2
A WM2 szerszámkészítő mikroszkóp egy robusztus és könnyen használható mikroszkóp, amely távolságok és szögek mérésére szolgál. A videócső és a VMS vag...
DE-35614 Aßlar
Solver Nano - Specializált AFM
Solver Nano - Specializált AFM
Az AFM erős pozíciót képvisel a tudományos kutatásban, mivel rutinszerű analitikai eszközként használják a fizikai tulajdonságok jellemzésére, magas t...
RU-124460 Moscow
Kábelmérő Eszköz VCPLab - Kamerás Rendszer Kábelgeometriák Mérésére Szigetelő Héjakon és Burkolatokon
Kábelmérő Eszköz VCPLab - Kamerás Rendszer Kábelgeometriák Mérésére Szigetelő Héjakon és Burkolatokon
Eszköz részletei: ■ Ház, mint védőburkolat a külső fény ellen ■ Központi kezelőpanel ■ Félautomatikus fókuszálás és expozíció ■ Vibrációállóság ■ Gyak...
DE-98527 Suhl
Műszaki Tisztasági Ellenőrzés
Műszaki Tisztasági Ellenőrzés
Laboratóriumunkban technikai tisztasági vizsgálatokat végzünk az ISO 16232, VDA-19 vagy más vállalati specifikációk szerint.
DE-90530 Wendelstein
Lézerhegesztés
Lézerhegesztés
14 éves tapasztalatunknak köszönhetően a lézerhegesztés területén képesek vagyunk a bonyolult és nehezen javítható alkatrészek optimális helyreállítás...
DE-42551 Velbert
uniVision Asszisztens
uniVision Asszisztens
Gyorsabban elérheti céljait az uniVision Assistant segítségével: Képfeldolgozás kezdőknek és szakértőknek...
AT-4020 Linz
Nexview™ NX2 - Optikai 3D felületprofilométer
Nexview™ NX2 - Optikai 3D felületprofilométer
Az optikai 3D-profilométer Nexview™ NX2 a legigényesebb alkalmazásokhoz készült, és különösen magas precizitást, fejlett algoritmusokat, alkalmazási r...
DE-64331 Weiterstadt
Félautomatikus Betöltés
Félautomatikus Betöltés
A 100%-os alkatrészbiztonságot egy átgondolt szoftver biztosít. A SM902 félautomata beépített mérőrendszerekkel 100%-os alkatrészbiztonságot nyújt, é...
DE-92280 Kastl
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Komponens tisztasági elemzés egy sokoldalú asztali SEM-mel, 200 000x nagyítás, <10nm felbontás, EDX elemi elemzés és SED lehetőségként.
DE-63225 Langen
Digitális Mérésprojektor
Digitális Mérésprojektor
Fontos, hogy a jó mérés érdekében a munkadarab lehetőleg tiszta legyen, és ne legyen rajta élek képződése. Dimenziómérési technika: Profilprojektor /...
CH-5630 Muri
Sol - Intelligens Profilprojektor
Sol - Intelligens Profilprojektor
SOL - Manuális Vision Mérőrendszer A SOL mérőrendszerek manuális Vision mérőeszközök kisebb alkatrészekhez. A Micro-Vu Sol a legolcsóbb optikai 3D k...
DE-66606 St. Wendel