SiBrickScan (SBS) - Szilícium Ingot Elemző
SiBrickScan (SBS) - Szilícium Ingot Elemző

SiBrickScan (SBS) - Szilícium Ingot Elemző

0 €
A SiBrickScan (SBS) egy dedikált, vonali rendszer az FTIR kvantifikálására, amely a szilícium ingotok közötti oxigén mennyiségét méri, így egy koncentrációs profilt hoz létre a hosszanti tengely mentén. Ezen információk elérése anélkül, hogy wafereket vagy tesztmintákat kellene vágni, jelentős költségmegtakarítást és előnyt jelent. Értékes információk megszerzése a termékminőség ellenőrzésére és optimalizálására A szilícium ingotok oxigén gradiensének ismerete fontos következtetések levonását teszi lehetővé, amelyek segíthetnek például a szilícium kristályosodási folyamatának irányításában és optimalizálásában, vagy a rossz nyersanyag tételek azonosításában. Ezért az SBS segít a költségek csökkentésében a termékminőség optimalizálásával és a hibás waferek mennyiségének csökkentésével. Az egyes ingotok véletlenszerű mintavételezése jelentősen csökkenti a minták előkészítésének erőfeszítéseit, és sokkal korábban nyújt releváns információkat.
Hasonló termékek
1/15
IFS 125HR - FTIR spektrométer
IFS 125HR - FTIR spektrométer
Az IFS 125HR a legjobb eszköz a nagy felbontású IR spektroszkópiához Kiváló eredmények a laboratóriumában Absorpciós vagy emissziós módban az IFS 125...
DE-76275 Ettlingen
INVENIO - FTIR spektrométer
INVENIO - FTIR spektrométer
FTIR Kiválóság az Ipar, K+F és Tudomány számára: INVENIO INVENIO a végső spektroszkópiai megoldás a rutinszerű FTIR elemzésekhez, valamint a kutatás-f...
DE-76275 Ettlingen
ALPHA II - FTIR spektrométer
ALPHA II - FTIR spektrométer
Az FTIR spektrométer, az ALPHA II, kiemelkedő minőséget ötvöz egy kis helyigénnyel, és mércét állít fel a felhasználói kényelem terén. Az integrált pa...
DE-76275 Ettlingen
SENTERRA II - Kompakt Raman Mikroszkóp
SENTERRA II - Kompakt Raman Mikroszkóp
A SENTERRA II új szintet határoz meg a spektroszkópiai teljesítmény és a felhasználóbarátság terén a kompakt Raman mikroszkópok osztályában. A SENTER...
DE-76275 Ettlingen
INVENIO - FT-IR Magas Teljesítmény a Rutin Elemzéshez, Kutatáshoz és Fejlesztéshez: INVENIO
INVENIO - FT-IR Magas Teljesítmény a Rutin Elemzéshez, Kutatáshoz és Fejlesztéshez: INVENIO
Az INVENIO kiváló spektroszkópiai teljesítményt, innovatív új technológiákat és intelligens dizájnt kínál. Tökéletesen testreszabható az Ön igényeihez...
DE-76275 Ettlingen
MATRIX-MF - FTIR spektrométer
MATRIX-MF - FTIR spektrométer
A MATRIX-MF egy strapabíró és kompakt spektrométer, amely optikai szálon keresztül csatlakoztatható, hogy kémiai reakciókat mérjen laboratóriumi és/va...
DE-76275 Ettlingen
HTS-XT - Mikrotáblák kiterjesztése
HTS-XT - Mikrotáblák kiterjesztése
A HTS-XT mikrolemez kiterjesztés lehetővé teszi az FTIR spektroszkópia alkalmazását a nagy áteresztőképességű szűrés módszereként. A spektrális adatok...
DE-76275 Ettlingen
VERTEX sorozat - FTIR spektrométerek
VERTEX sorozat - FTIR spektrométerek
A VERTEX FTIR kutatási spektrométer termékcsalád a Bruker által több mint 40 év alatt kifejlesztett és megvalósított innovációk csúcspontja. A VERTEX ...
DE-76275 Ettlingen
RAM II - FT-Raman modul
RAM II - FT-Raman modul
A RAM II az első kettős csatornás FT-Raman modul, amely csatlakoztatható a VERTEX FT-IR kutatási spektrométer sorozathoz. Az INVENIO, VERTEX 80 vagy a...
DE-76275 Ettlingen
ALPHA II
ALPHA II
ALPHA II - Az integrált és kényelmes FT-IR megoldás Az ALPHA II FT-IR spektrométer a legmagasabb minőséget ötvözi a kis helyigénnyel, és mércét állít...
DE-76275 Ettlingen
TANGO - Gyorsabb, egyszerűbb, biztonságosabb - a TANGO-val felgyorsítja NIR elemzését.
TANGO - Gyorsabb, egyszerűbb, biztonságosabb - a TANGO-val felgyorsítja NIR elemzését.
A TANGO pontosan azt kínálja, amire az ipari felhasználású FT-NIR spektrométerek felhasználóinak szüksége van: robusztusságot, magas pontosságot és eg...
DE-76275 Ettlingen
HYPERION II - HYPERION sorozat FT-IR mikroszkópok
HYPERION II - HYPERION sorozat FT-IR mikroszkópok
A HYPERION II mikroszkóp először egyesíti az FT-IR és az infravörös lézeres képalkotó (ILIM) mikroszkópiát egyetlen eszközben. Három mérési módot kíná...
DE-76275 Ettlingen
LUMOS II - FTIR Képalkotó Mikroszkóp
LUMOS II - FTIR Képalkotó Mikroszkóp
A LUMOS II kiemelkedő vizuális és spektrális adatminőséget kínál, teljesen automatizált mérési módokkal: áteresztés, visszaverődés és ATR. A FTIR kezd...
DE-76275 Ettlingen
MATRIX-MG - MATRIX-MG Gázelemzők
MATRIX-MG - MATRIX-MG Gázelemzők
10 cm optikai úthossz a magas gázkoncentrációk azonosításához és mennyiségméréséhez A gázcellában lévő térfogat mindössze 25 ml A gázcella PTFE bevona...
DE-76275 Ettlingen
MPA II - Többfunkciós FT-NIR Analizátor
MPA II - Többfunkciós FT-NIR Analizátor
Az FT-NIR spektrométer MPA?II a mai és a holnapi minőségellenőrzési igények kielégítésére készült. Kiváló rugalmasságot és magas teljesítményt kombiná...
DE-76275 Ettlingen

Megérkezett az europages alkalmazás!

Használja az új és fejlesztett szolgáltatókeresőnket, vagy hozzon létre érdeklődéseket a vásárlók számára készült új europages alkalmazás segítségével.

Letöltés az App Store-ban

App StoreGoogle Play