IMOS Interferencia Mikroszkóp-nanoprofilométer - Nanoprofilométerek

Az IMOS Interferencia Mikroszkóp-nanoprofilométer lehetővé teszi a pontos, mennyiségi, ISO-kompatibilis érintkezés nélküli felületi méréseket és a mikro- és nanoszkálás felületi jellemzők karakterizálását, másodpercek alatt akár kétmillió adatpont rögzítésével. A megfelelő optikai profilométer kiválasztása az alkalmazási követelmények, például sebesség, pontosság, függőleges tartomány, automatizálás és rugalmasság függvénye. Az IMOS optikai felületi profilométer erőteljes sokoldalúságot biztosít az érintkezés nélküli optikai felületi mérésekben. A rendszer lehetővé teszi a különböző felülettípusok, például sima, durva, lapos, lejtős és lépcsős felületek gyors és egyszerű vizsgálatát. Minden mérés nem destruktív, gyors, és nem igényel különleges mintakészítést. XY felbontás: 1 µm Mérési terület: 0,4 x 0,3 mm * Pixelek mérete a mérési területen: 0,3 µm * Fényérzékelő**: CCD-mátrix 1392x1040 Fényforrás**: LED (λeff = 630 nm) Mikroobjektívek**: 20x (vagy 10x, 5x), 2 darab nagyításváltás nélkül Szkenner: Piezoelektromos kerámia elem Mintaszínpadok: 1D (Z) tartomány 50 mm, 2D (XY) tartomány 75x50 mm Vezérlők: CCD-kamera keretgyűjtő, színpadvezérlő, eszközvezérlő egység PC és vezérlőszoftver: Tartalmazza